您的位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 儀器 > 實(shí)驗(yàn)室儀器 > TFE000051QuattroESEM環(huán)境掃描電鏡
產(chǎn)品中心
-
產(chǎn)品名稱： QuattroESEM環(huán)境掃描電鏡產(chǎn)品型號(hào)： TFE000051產(chǎn)品時(shí)間： 2020-06-29
客服熱線：4008005586
Thermo Scientific ™Quattro™ ESEM™具有*的環(huán)境功能的超多功能高分辨率SEM。將成像和分析的性能與*的環(huán)境模式（ESEM™）相結(jié)合，可在自然狀態(tài)下對(duì)樣品進(jìn)行研究。它適用于各種學(xué)術(shù)，產(chǎn)業(yè)和政府想要的易于使用需要不同的經(jīng)驗(yàn)水平和學(xué)科平臺(tái)上的多個(gè)用戶的通用性。
產(chǎn)品介紹
與EDS共面的電子背散射衍射（EBSD）以及波長(zhǎng)色散X射線光譜儀（WDS）。Quattro ESEM支持可選的高真空加熱臺(tái)，AutoScript，基于Python的腳本工具和新的RGB陰極發(fā)光（CL）檢測(cè)器。RGB CL檢測(cè)器產(chǎn)生彩色圖像，突出顯示常規(guī)電子或X射線成像技術(shù)無法看到的樣品特性。高真空加熱臺(tái)可在高溫下觀察干凈的樣品。借助AutoScript，用戶可以對(duì)成像和舞臺(tái)移動(dòng)進(jìn)行編程，以進(jìn)行無人值守的數(shù)據(jù)采集。
產(chǎn)品特點(diǎn)
· 同時(shí)包含基座和比色皿檢測(cè)模塊，以擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)靈活性和擴(kuò)大動(dòng)態(tài)范圍。
· 測(cè)量稀釋樣品，執(zhí)行動(dòng)力學(xué)實(shí)驗(yàn)并獲取細(xì)菌培養(yǎng)物的光密度測(cè)量結(jié)果。
· 比色皿檢測(cè)模塊包括溫度控制和攪拌區(qū)域。
· 在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品， 同步獲取二次電子像和背散射電子像。
· 安裝原位冷臺(tái)、珀?duì)柼渑_(tái)和熱臺(tái)，可在-165℃ 到1400℃ 溫度范圍內(nèi)進(jìn)行原位分析。
· 分析性能，樣品倉可同時(shí)安裝三個(gè)EDS探測(cè)器，其中兩個(gè)EDS端口分開180°、WDS和共面EDS/EBSD。
· 針對(duì)不導(dǎo)電樣品的分析性能：憑借“壓差真空系統(tǒng)”實(shí)現(xiàn)低真空模式下的精確 EDS 和 EBSD分析。
· 靈活、精確的優(yōu)中心樣品臺(tái)，105°傾斜角度范圍，可觀察樣品。
· 軟件直觀、簡(jiǎn)便易用，并配置用戶向?qū)Ъ?nbsp;Undo（撤銷）功能，操作步驟更少，分析更快速
· 全新創(chuàng)新選項(xiàng)，包括可伸縮RGB陰極熒光（CL）探測(cè)器、1100℃高真空熱臺(tái)和AutoScript（基于Python的腳本工具API）
參數(shù)
電子束
· 束流范圍：1 Pa~200 na
· 加速電壓范圍：200 V-30 kV
· 著陸能量范圍：20 eV~30 kev，可選光束減速
· 放大倍數(shù)：6~2500000×
· 內(nèi)部寬度：340 mm
· 分析工作距離：10 mm
· 端口：12
· EDS起落角：35°
· 3個(gè)同步的EDS探測(cè)器，兩個(gè)在180°
· 高真空成像
–0.8納米@30千伏（STEM）
–1.0 nm@30Kv（東南）
–2.5納米@30千伏（瘋牛病）
–3.0 nm@1Kv（東南）
光束減速的高真空成像
–3.0 nm@1Kv（BD模式*+BSED*）
–2.1 nm@1Kv（BD模式*+ICD*）
–3.1nm@200 V(BD模式*+ICD*)
· 低真空成像
–1.3 nm@30 kV(SE)-2.5 nm@30 kV(SE)-3.0 nm@3 kV(SE)
· ESEM
–1.3 nm@30 kV(SE)
探測(cè)器
Quattro同時(shí)檢測(cè)來自現(xiàn)有探測(cè)器或探測(cè)器段的任意組合的四個(gè)信號(hào)：
· ETD-Everhart-Thornley SE探測(cè)器·低真空SE檢測(cè)器(LVD)
· 氣態(tài)SED(用于ESEM模式)
· 紅外攝像機(jī)，用于在室內(nèi)
· Nav-CaM中觀察樣品：用于樣品導(dǎo)航的室內(nèi)彩色光學(xué)相機(jī)
· DBS-可回收或安裝在-thelens定向背向散射探測(cè)器下的鏡頭
· DBS-GAD-透鏡式氣體分析檢測(cè)器
· STEM 3+-可伸縮分段(BF，4 df，6 hdf)掃描透射探測(cè)器
· 濕STEM-Peltier級(jí)集成STEM用于觀察薄濕樣品
· RGB-CLD-真彩色CL探測(cè)器
· 柱內(nèi)檢測(cè)器(ICD)，用于束流減速模式*DNA 和RNA (260 nm)
真空系統(tǒng)
· 1×250升/秒
· 1輛PVP2×IGP
· 集成的IGP電池備份（系統(tǒng)保護(hù)從非計(jì)劃停電）
· 通過透鏡差動(dòng)泵浦
· 光束氣體路徑長(zhǎng)度：10毫米或2毫米
· 疏散時(shí)間：≤5分鐘到高真空和≤5分鐘
分鐘到ESEM
· 可選擇的CryoCleaner冷阱
· 可選升級(jí)為無油滾動(dòng)/干式PVPs
| 產(chǎn)品料號(hào) | 產(chǎn)品貨號(hào) | *產(chǎn)品名稱 | *產(chǎn)品規(guī)格 |
| TFE000051 | TFE000051 | QuattroESEM環(huán)境掃描電鏡 | QuattroESEM |
相關(guān)產(chǎn)品
- (上一篇)：TFE000050Apreo掃描電鏡
- (下一篇)：TFE000052Verios XHR SEM掃描電鏡