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產(chǎn)品名稱： Themis透射電鏡產(chǎn)品型號(hào)： TFE000054產(chǎn)品時(shí)間： 2020-06-29
客服熱線：4008005586
Thermo Scientific™ Themis™ 基于FEI的Titan/TEM平臺(tái)——2005年推出——Themis TEM家族形成了下一代的世界上大的，商業(yè)上可用的材料科學(xué)解決方案，與Themis Z和Themis ETEM。這是開始與我們革命性的寬高張力范圍和校正準(zhǔn)備平臺(tái)，加上寬極片間隙提供空間做更多。基于穩(wěn)定性和靈活性的發(fā)展，Themis是高性能的，能夠不斷地發(fā)現(xiàn)和探索原子尺度。
產(chǎn)品介紹
這些經(jīng)過驗(yàn)證的光學(xué)與新的突破性掃描透射電子顯微鏡（STEM）成像能力和增強(qiáng)的自動(dòng)化軟件相結(jié)合，使所有材料科學(xué)家都能獲得終的成像和分析性能。FEI的像差校正Themis Z掃描透射電子顯微鏡（STEM）結(jié)合了經(jīng)過驗(yàn)證的光學(xué)和新的突破性的STEM成像能力和增強(qiáng)的自動(dòng)化軟件，使終的成像性能掌握在所有材料科學(xué)家的手中。與我們*的EDX投資組合的西米斯Z提供了所有全面的原子表征數(shù)據(jù)在一個(gè)單一的工具，單一的物鏡配置。ETEM是我們專門為觀察功能納米材料及其對(duì)氣體和溫度刺激的時(shí)間分辨響應(yīng)而設(shè)計(jì)的環(huán)境瞬變電磁平臺(tái)。通過*的差分泵浦物鏡，樣品區(qū)成為研究催化劑顆粒、納米器件和其他材料的實(shí)驗(yàn)室，使原子尺度能夠觀察表面和界面的形貌和相互作用。當(dāng)需要時(shí)，泰坦ETEM可以作為原子尺度成像的標(biāo)S/TEM。
產(chǎn)品特點(diǎn)
• 專為觀察功能納米材料及其對(duì)氣體和溫度刺激的及時(shí)響應(yīng)而設(shè)計(jì)。
• 試樣區(qū)域具有*的微分泵目標(biāo)透鏡，成為研究催化劑顆粒、納米器件和其他材料的實(shí)驗(yàn)室，使原子尺度能夠洞察表面和界面的形態(tài)和相互作用。
• 化學(xué)成分和粘合狀態(tài)研究。
• 3d 化學(xué)映射。
• s/tem斷層掃描。
• 磁場(chǎng)和電場(chǎng)測(cè)量。
• 動(dòng)態(tài)研究。
• 原位氣體-固體相互作用實(shí)驗(yàn)。
參數(shù)
型號(hào)： Themis 200 |
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| 能量分散 | 點(diǎn)分辨率 | 信息限制 | STEM分辨率 |
圖像校正器 | 0.8 eV | 90pm | 90pm | 160pm |
探針校正器 | 0.8 eV | 240pm | 110pm | 80pm |
無校正 | 0.8 eV | 240pm | 110pm | 160pm |
| X-FEG |
| 注 ：所有規(guī)格都是 200 kV 電壓下的數(shù)據(jù) 如需其他加速電壓下的規(guī)格列表，請(qǐng)聯(lián)系銷售代表 | |
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型號(hào)：Themis 300 |
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| 能量分散 | 點(diǎn)分辨率 | 信息限制 | STEM分辨率 |
圖像校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 80pm | 80pm | 136pm |
探針校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 200pm | 100pm | 80pm |
單色儀 + X-FEG | 0.2 至 0.3 eV | 200pm | 80pm | 136pm |
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型號(hào)：Themis ³ 300 |
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| 能量分散 | 點(diǎn)分辨率 | 信息限制 | STEM分辨率 |
圖像校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 80pm | 80pm | 136pm |
探針校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 200pm | 100pm | 70pm |
單色儀/X-FEG | 0.2 至 0.3 eV | 80pm | 70pm | 70pm |
圖像 + 探針校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 80pm | 80pm | 70pm |
* 取決于能量過濾器選件 | S-FEG 0.7 eV、 |
| 注 ：所有規(guī)格都是 300 kV電壓下的數(shù)據(jù) | |
• 可選超穩(wěn)定、高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍（X-FEG，更多詳情請(qǐng)參見單獨(dú)的產(chǎn)品數(shù)據(jù)表）。
• 全新三透鏡聚光器系統(tǒng)可量化指示照明區(qū)域會(huì)聚角和大小，從而量化衡量電子劑量和照明條件。
• 靈活的高電壓范圍,Titan Themis 300和Titan Themis³300 ：60至300kV（60、80、120、200、300kV）, Titan Themis 200 ：80至200kV（80、120、200kV）。
• 電子槍單色儀可實(shí)現(xiàn)高能量分辨率EELS以及更高的空間分辨率，尤其在低 kV HR-S/TEM下。
• STEM和TEM ：Titan Themis 300和Titan3 Themis 300 ：在 STEM和TEM中可達(dá)70pm 性能 ；Titan Themis 200 ：在 TEM 中具有90pm 性能，在 STEM中具有80pm性能。
• 使用環(huán)境罩時(shí)，Titan3 Themis的室內(nèi)聲音和溫度變化要求可以放寬。
• 擁有模塊化鏡筒設(shè)計(jì)可以為鏡筒中的低勵(lì)磁偏轉(zhuǎn)器打造精確的機(jī)械疊層系統(tǒng)，大限度降低由電子 噪聲帶來的不穩(wěn)定性。
• 在模式切換過程中ConstantPower™透鏡設(shè)計(jì)具有熱穩(wěn)定性。
• 低磁滯設(shè)計(jì)可大限度減小光學(xué)組件間的串音，實(shí)現(xiàn)可再現(xiàn)性。
• Ruska-Rieke S-Twin 對(duì)稱物鏡，5.4 mm寬極片間距設(shè)計(jì)以及可以使用加熱、冷卻和STM/AFM 支架等特殊支 架的“多用途空間”。
• 物鏡背部焦平面中的物鏡孔隙非常適合開展TEM 暗場(chǎng)應(yīng)用工作,現(xiàn)場(chǎng)可升級(jí),加裝探針Cs校正器。
• 自動(dòng)孔隙支持遠(yuǎn)程控制操作，而且改變孔隙期間可調(diào)用孔隙位置，具有可再現(xiàn)性。
• 無旋轉(zhuǎn)成像，讓操作更輕松，并能清晰呈現(xiàn)圖像與衍射平面之間的方位關(guān)系。
• 用計(jì)算機(jī)控制的全新5軸樣品壓電載物臺(tái)，支持精確調(diào)用存儲(chǔ)位置，在搜索目標(biāo)區(qū)域時(shí)跟蹤訪問過的區(qū)域，并具有超穩(wěn)定、深亞埃分辨率以及低樣品漂移。
• 全新壓電載物臺(tái)可實(shí)現(xiàn)精確到20pm的移動(dòng)，以便將目標(biāo)觀測(cè)特征置于視場(chǎng)中央。
• 壓電載物臺(tái)提供的線性漂移補(bǔ)償功能可用于減輕熱漂移造成的限制，因?yàn)樵谠患訜峄蚶鋮s實(shí)驗(yàn)中熱漂移不可避免。
• 分析用雙傾斜樣品架具有±40度的傾斜范圍，支持觀測(cè)多晶材料中某個(gè)晶體的多個(gè)晶帶軸。傾斜范圍高達(dá)±75度的立體成像樣品架，可大限度減少三維重構(gòu)中的圖塊缺失。
• 全新冷阱設(shè)計(jì)，多可使用一周，從而大限度提高正常運(yùn)行時(shí)間。
| 產(chǎn)品料號(hào) | 產(chǎn)品貨號(hào) | *產(chǎn)品名稱 | *產(chǎn)品規(guī)格 |
| TFE000054 | TFE000054 | Themis透射電鏡 | Themis 200 |
| TFE000055 | TFE000055 | Themis透射電鏡 | Themis 300 |
| TFE000056 | TFE000056 | Themis透射電鏡 | Themis ³ 300 |
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